close

Вход

Забыли?

вход по аккаунту

?

код для вставки
2005
Structure
D 2000
36- 004
Crystallographic Properties of ErFe6Sn 6-xGax Compounds (0 < x < 6). — The title
compounds are characterized by powder XRD. The replacement of Sn by Ga atoms
leads to a stabilization of the HfFe6Ge6-type structure for 0.25 ≤ x ≤ 2.5 and of the
ScFe6Ga6-type structure for 4.0 ≤ x ≤ 5.5. The refinement of the crystal structure of
ErFe6Sn4Ga2 indicates that the Ga atoms mainly occupy the Fe6Er3 tricapped trigonal
prisms. — (IHOU-MOUKO, H.; VENTURINI*, G.; J. Alloys Compd. 396 (2005) 1-2,
59-63; Lab. Chim. Solide Miner., CNRS, Univ. Henri Poincare, F-54506
Vandoeuvre-les-Nancy, Fr.; Eng.) — W. Pewestorf
Документ
Категория
Без категории
Просмотров
0
Размер файла
9 Кб
Теги
1/--страниц
Пожаловаться на содержимое документа