close

Вход

Забыли?

вход по аккаунту

?

Патент BY15066

код для вставкиСкачать
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К ПАТЕНТУ
РЕСПУБЛИКА БЕЛАРУСЬ
(46) 2011.12.30
(12)
(51) МПК
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР
ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ
СОБСТВЕННОСТИ
(54)
G 01J 3/42
(2006.01)
СПОСОБ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО
КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВА
(21) Номер заявки: a 20091473
(22) 2009.10.20
(43) 2011.06.30
(71) Заявитель: Конструкторско-технологическое республиканское унитарное предприятие "Нуклон" (BY)
(72) Авторы: Бузук Александр Александрович; Курейчик Константин Петрович; Сидоренко Виктор Николаевич (BY)
BY 15066 C1 2011.12.30
BY (11) 15066
(13) C1
(19)
(73) Патентообладатель: Конструкторскотехнологическое республиканское унитарное предприятие "Нуклон" (BY)
(56) SU 1290089 A1, 1987.
RU 2109255 C1, 1998.
SU 1599672 A1, 1990.
GB 1455327 A, 1976.
CN 1621788 A, 2005.
JP 3176642 A, 1991.
(57)
Способ атомно-абсорбционного спектрального количественного анализа вещества,
включающий подачу сформированного напряжения питания на лампу с полым катодом и
дейтериевый корректор фона, попеременное задание и стабилизацию токов указанных
лампы и корректора, пропускание их излучения сквозь слой атомных паров исследуемого
вещества, измерение интенсивности прошедшего через слой излучения и получение искомого результата расчетным путем, отличающийся тем, что напряжение питания формируют в виде общего импульса, а указанные токи задают и стабилизируют на спаде фронта
этого импульса в моменты достижения значения напряжения зажигания лампы и корректора, при этом измерение интенсивности излучения лампы осуществляют с момента задания ее тока до момента задания тока корректора, а измерение интенсивности излучения
корректора - с момента гашения лампы до момента окончания заданной длительности тока корректора.
Фиг. 1
BY 15066 C1 2011.12.30
Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использования в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении.
Известны способы атомно-абсорбционных измерений, согласно которым на лампу с
полым катодом и дейтериевый корректор фона подают постоянное напряжение питания,
попеременно задают и стабилизируют токи ламп, а интенсивность полученного излучения
измеряют после прохождения слоя атомных паров [1, 2].
Также известен способ атомно-абсорбционного спектрального количественного анализа вещества, который включает подачу сформированного напряжения питания на лампу
с полым катодом и дейтериевый корректор фона, попеременное задание и стабилизацию
токов указанных лампы и корректора, пропускание их излучения сквозь слой атомных паров исследуемого вещества, измерение интенсивности прошедшего через слой излучения
и получение искомого результата расчетным путем [3].
Принципиальным недостатком данных способов является низкая точность спектральных измерений, поскольку измеряется остаточное свечение лампы с полым катодом в момент измерения интенсивности излучения дейтериевого корректора и наоборот.
Остаточное свечение ламп обусловлено неконтролируемым обратным током ключевых
транзисторов, используемых в блоках питания ламп. Наибольшее остаточное излучение
характерно для высокоинтенсивных ламп с полым катодом, например, на медь. Остаточная интенсивность дейтериевого корректора, как правило, меньше влияет на точность
спектральных измерений.
Задачей настоящего изобретения является повышение точности спектральных измерений путем снижения остаточного свечения лампы с полым катодом.
Поставленная задача достигается тем, что способ атомно-абсорбционного спектрального количественного анализа вещества включает подачу сформированного напряжения
питания на лампу с полым катодом и дейтериевый корректор фона, попеременное задание
и стабилизацию токов указанных лампы и корректора, пропускание их излучения сквозь
слой атомных паров исследуемого вещества, измерение интенсивности прошедшего через
слой излучения и получение искомого результата расчетным путем. При этом напряжение
питания формируют в виде общего импульса, а указанные токи задают и стабилизируют
на спаде фронта этого импульса в моменты достижения значения напряжения зажигания
лампы и корректора. При этом измерение интенсивности излучения лампы осуществляют
с момента задания ее тока до момента задания тока корректора, а измерение интенсивности излучения корректора - с момента гашения лампы до момента окончания заданной
длительности тока корректора.
На фиг. 1 изображен атомно-абсорбционный спектрофотометр, реализующий указанный способ.
На фиг. 2 изображены диаграммы работы атомно-абсорбционного спектрофотометра.
Спектрофотометр содержит оптически связанные лампу с полым катодом 1, дейтериевый корректор 2, осветительную систему 3, атомизатор 4, монохроматор 5, фотоприемник
6, устройство измерения 7 и блок импульсного питания 8, который выполнен на основе
трансформатора, первичная обмотка 9 которого соединена с питающей сетью, а вторичная
обмотка 10 нагружена на мостовой выпрямитель 11, выход которого связан с блоками импульсного формирования токов 12 и 13, которые в свою очередь нагружены на лампы 1 и
2 соответственно. Кроме того, выход выпрямителя 11 связан с устройством измерения 7,
которое выполнено на основе микроконтроллера типа Pic, снабженного аналого-цифровым преобразователем. Амплитуда импульса на выходе блока 8 должна быть не менее
напряжения зажигания лампы с полым катодом, т.е. порядка 450-500 В.
Способ реализуется следующим образом.
Напряжение питания ламп в виде однополярных импульсов (фиг. 2) поступает на блоки импульсного формирования токов 12 и 13 (фиг. 1). Блоки выполнены известным обра2
BY 15066 C1 2011.12.30
зом и описаны в [1]. Эти импульсы поступают и на блок 7 (фиг. 1), который измеряет их
амплитуду. В момент достижения максимального значения напряжения импульса питания, которое равно напряжению зажигания лампы с полым катодом, блок 7 выдает импульс синхронизации на блок 12 (фиг. 1). Этот импульс изображен на фиг. 2, б в момент
времени t1. Лампа с полым катодом зажигается, и ее излучение проходит через атомизатор, где поглощается слоем атомных паров. Напряжение на спаде фронта импульса питания при этом снижается в течение заданной длительности импульса синхронизации. При
снижении этого напряжения до 350 В блок 7 подает импульс синхронизации на блок 13,
который управляет дейтериевым корректором 2. Длительность импульса синхронизации
дейтериевого корректора 2 составляет t2 (фиг. 2, в). Дейтериевый корректор 2 зажигается,
и его излучение проходит через слой атомных паров в атомизаторе 4 (фиг 1).
При снижении напряжения на спаде фронта импульса питания до 200 В и менее
(фиг. 2, а) для окончания момента времени t1 лампа с полым катодом гаснет. Дейтериевый
корректор гаснет при снижении напряжения питания менее 50 В.
Блок 7 проводит измерение интенсивности излучения лампы с полым катодом до момента времени t2, а измерение интенсивности излучения дейтериевого корректора - с момента окончания t2 до момента окончания длительности t2. Указанные длительности t1 и
t2 можно установить опытным путем.
Таким образом, в момент измерения интенсивности дейтериевого корректора интенсивность лампы с полым катодом снижена до нуля, что и обеспечивает достижение цели
изобретения.
Перечисленные существенные отличительные признаки не следуют очевидным образом из сегодняшних знаний в данной области техники.
Источники информации:
1. Курейчик К.П. Импульсная атомная спектрометрия. Методы измерений. Аппаратура. - Мн.: Университетское, 1989. - С. 76-83.
2. Атомно-абсорбционный спектрофотометр novAA-400. Техническое руководство по
эксплуатации. 2005.
3. А.с. СССР 1290089 // Бюл. № 6. - 15.02.1987 (прототип).
Фиг. 2
Национальный центр интеллектуальной собственности.
220034, г. Минск, ул. Козлова, 20.
3
Документ
Категория
Без категории
Просмотров
1
Размер файла
77 Кб
Теги
патент, by15066
1/--страниц
Пожаловаться на содержимое документа