close

Вход

Забыли?

вход по аккаунту

?

Патент BY15360

код для вставкиСкачать
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К ПАТЕНТУ
РЕСПУБЛИКА БЕЛАРУСЬ
(46) 2012.02.28
(12)
(51) МПК
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР
ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ
СОБСТВЕННОСТИ
(54)
BY (11) 15360
(13) C1
(19)
H 01L 21/02
H 01L 21/302
(2006.01)
(2006.01)
КРЕМНИЕВАЯ ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ СТРУКТУРА ОРИЕНТАЦИИ
(001)
(21) Номер заявки: a 20091422
(22) 2009.10.06
(43) 2011.06.30
(71) Заявитель: Государственное научное учреждение "Физико-технический институт Национальной академии наук Беларуси " (BY)
(72) Автор: Сенько Сергей Федорович
(BY)
(73) Патентообладатель: Государственное
научное учреждение "Физико-технический институт Национальной академии наук Беларуси " (BY)
(56) ЗИ С. Технология СБИС. - М.: Мир,
1986. - Кн. 1. - С. 72-74, 94-102.
RU 2035802 C1, 1995.
SU 1762689 A1, 1999.
SU 723986 A, 1985.
JP 1175742 A, 1989.
JP 1138723 A, 1989.
JP 3201440 A, 1991.
JP 56071929 A, 1981.
BY 15360 C1 2012.02.28
(57)
Кремниевая эпитаксиальная структура ориентации (001), содержащая монокристаллическую кремниевую подложку толщиной t со сформированным на рабочей поверхности
эпитаксиальным слоем требуемой толщины или со сформированными на рабочей поверхности скрытым слоем заданной топологической конфигурации и эпитаксиальным слоем
требуемой толщины, отличающаяся тем, что на нерабочей поверхности вдоль, по меньшей мере, одного из кристаллографических направлений <100> содержит механические
нарушения в виде параллельных линий с шагом d, выбранным из интервала (0,2…0,6)t.
Изобретение относится к области электронной техники, в частности к микроэлектронике, и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов.
В настоящее время большинство полупроводниковых приборов изготавливается по
планарной технологии с использованием в качестве исходного материала плоской полупроводниковой пластины. Параметры исходной пластины во многом предопределяют
BY 15360 C1 2012.02.28
технические характеристики и выход изготавливаемых приборов. Важнейшим показателем их качества является устойчивость к процессам дефектообразования в процессе формирования активной структуры.
Вначале полупроводниковые приборы изготавливали с использованием в качестве исходного материала кремниевых пластин круглой формы с толщиной, обеспечивающей необходимую механическую прочность, с шероховатой рабочей поверхностью [1].
Такие пластины изготавливают обычно путем химического травления нарушенного
слоя, образующегося в процессе резки слитка кремния на пластины. Недостатки рассматриваемой конструкции пластин связаны с тем, что микронеровности шероховатой поверхности при проведении высокотемпературных операций в процессе формирования
активной структуры полупроводниковых приборов служат источником возникновения
кристаллографических дефектов в приповерхностном объеме пластины, что не позволяет
получить приборы приемлемого уровня качества. Формирование технологических слоев
приводит к тому, что неровности поверхности пластины выступают в роли концентраторов механических напряжений. Это приводит к генерации дислокаций, дефектов упаковки
и линий скольжения, которые снижают напряжение пробоя формируемых p-n-переходов и
увеличивают токи их утечки. Дополнительным фактором, влияющим на дефектность рабочей поверхности пластины, является наличие неконтролируемых загрязнений как в материале пластины, так и в технологических средах, используемых в производстве
приборов. Неконтролируемые примеси накапливаются вблизи рабочей поверхности пластины и приводят к образованию дополнительных дефектов, которые также значительно
ухудшают электрические характеристики получаемых приборов.
В связи с этим наибольшее распространение для изготовления полупроводниковых
приборов получили кремниевые пластины круглой формы с толщиной, обеспечивающей
необходимую прочность, и полированной рабочей поверхностью [2].
Полировка пластин позволяет заметно повысить качество изготавливаемых приборов за
счет удаления концентраторов напряжений на рабочей поверхности. Однако проблема неконтролируемых загрязнений этим не решается. Кроме того, постоянный рост требований к техническим характеристикам изготавливаемых приборов привел к необходимости использования в качестве исходного материала для их изготовления эпитаксиальных структур.
Наиболее близким техническим решением к заявляемому, его прототипом, является эпитаксиальная структура, представляющая собой полированную кремниевую подложку толщиной, обеспечивающей необходимую прочность, с заданными электрофизическими
характеристиками, на рабочей поверхности которой сформирована монокристаллическая
пленка кремния с электрофизическими характеристиками, существенно отличающимися от
характеристик пластины. Используемые толщины эпитаксиальных слоев для формирования
активной структуры не превышают, как правило, величину 15 мкм. При этом эпитаксиальная
структура в своем составе часто содержит сформированные в объеме исходной подложки
скрытые слои, которые могут быть сплошными или содержать рисунок требуемой топологической конфигурации [3]. Кристаллографическая ориентация эпитаксиальной пленки при
этом соответствуют кристаллографической ориентации исходной пластины.
Одним из наиболее широко используемых типов подложек являются монокристаллические пластины ориентации (001), получаемые из кремния, выращенного методом Чохральского, и содержащие в качестве загрязняющих примесей преимущественно кислород
и углерод. Процесс эпитаксиального наращивания пленок кремния основан на термическом разложении силанов при высокой температуре в атмосфере водорода. Очистка поверхности от собственного оксида кремния перед наращиванием эпитаксиальной пленки
обычно проводится с добавкой хлористого водорода. В процессе проведения эпитаксиального наращивания технологические газы, в данном случае водород и хлористый водород, неизбежно контактируют с металлической технологической оснасткой с образованием летучих гидридов и хлоридов металлов, из которых изготовлена оснастка. Это
2
BY 15360 C1 2012.02.28
приводит к дополнительному неконтролируемому загрязнению растущей эпитаксиальной
пленки металлами.
Рассматриваемая совокупность конструктивных элементов эпитаксиальной структуры
и технологии их формирования обуславливает чрезвычайно низкую ее устойчивость к дефектообразованию в процессе дальнейшего формирования активных элементов полупроводниковых приборов. Это связано с тем, что, с одной стороны, структура насыщена
неконтролируемыми примесями различного типа и происхождения. С другой стороны,
значительное различие в электрофизических свойствах и методах получения материала
исходной пластины и эпитаксиальной пленки, наряду с малой толщиной пленки по отношению к исходной пластине, приводит к накоплению основной части этих примесей в
эпитаксиальной пленке. В процессе формирования активной структуры полупроводниковых приборов эти примеси приводят к интенсивному дефектообразованию на поверхности
эпитаксиальной пленки в виде преципитатов. Они представляют собой микроскопические
выделения второй фазы в поверхностном слое эпитаксиальной пленки в результате превышения концентрации примесей их предельной растворимости. Плотность таких выделений достигает 106 см-2 и более. В результате ухудшаются характеристики изготавливаемых приборов и снижается выход годных изделий.
Таким образом, недостатком прототипа является низкая устойчивость эпитаксиальных
структур к дефектообразованию в процессе формирования активных элементов полупроводниковых приборов.
Задачей заявляемого изобретения является повышение устойчивости эпитаксиальных
структур ориентации (001) к дефектообразованию.
Поставленная задача решается тем, что кремниевая эпитаксиальная структура ориентации (001), содержащая монокристаллическую кремниевую подложку толщиной t со
сформированным на рабочей поверхности эпитаксиальным слоем требуемой толщины
или со сформированными на рабочей поверхности скрытым слоем заданной топологической конфигурации и эпитаксиальным слоем требуемой толщины, на нерабочей поверхности вдоль, по меньшей мере, одного из кристаллографических направлений <100>
содержит механические нарушения в виде параллельных линий с шагом d, выбранным из
интервала (0,2…0,6)t.
Сущность заявляемого технического решения заключается в поглощении неконтролируемых примесей сеткой дислокаций, формируемой контролируемыми механическими
нарушениями.
Наличие на нерабочей стороне эпитаксиальной структуры контролируемых нарушений в заданном кристаллографическом направлении предопределяет формирование в ее
объеме сетки дислокаций с управляемыми характеристиками. Дислокации характеризуются наличием большого количества оборванных химических связей, в связи с чем на них
эффективно осаждаются неконтролируемые примеси. Неконтролируемые примеси диффундируют в процессе формирования активной структуры полупроводниковых приборов
в область сетки дислокаций и захватываются ею. Концентрация неконтролируемых примесей в эпитаксиальной пленке снижается, а выделения второй фазы исчезают. В результате характеристики изготавливаемых приборов улучшаются, а выход годных возрастает.
Известно, что в кремнии основными плоскостями скольжения дислокаций являются кристаллографические плоскости типа {111} и {110}. Для пластины ориентации (001) плоскости
типа {111} наклонены к поверхности под углом ~54°44', плоскости (110) и (1 1 0) перпендикулярны ей, а плоскости (101), (10 1 ) , (011) и (0 1 1) наклонены под углом 45°. В случае
наличия на поверхности пластины неконтролируемых нарушений или нарушений в кристаллографических направлениях [110] и [1 1 0] генерация дислокаций энергетически наиболее
выгодна в плоскостях (110) и (1 1 0) , расположенных перпендикулярно поверхности пластины, т.к. энергия образования этих дислокаций минимальна. Однако это недопустимо, т.к. ге3
BY 15360 C1 2012.02.28
нерируемые в таком случае дислокации беспрепятственно достигают рабочей поверхности и
приводят к браку изготавливаемых приборов. Плоскости типа {111}, пересекающие рассматриваемые кристаллографические плоскости генерации дислокаций под углом ~35°16', не могут препятствовать прорастанию дислокаций на рабочую поверхность в связи с тем, что они
наклонены к поверхности пластины, и энергия образования дислокаций в этих плоскостях
выше, чем в плоскостях (110) и (1 1 0) . Наличие на нерабочей поверхности пластины механических нарушений в виде параллельных линий в кристаллографическом направлении [100]
или [010] приводит к генерации дислокаций в плоскостях (101), (10 1 ) , (011) и (0 1 1) , которые наклонены к поверхности под углом 45°. Генерация дислокаций именно в этих плоскостях в данном случае энергетически наиболее выгодна и обусловлена тем, что возникающие
от механических нарушений изгибающие моменты перпендикулярны линиям нарушений.
Плоскости (101) и (10 1 ) , (011) и (0 1 1) попарно перпендикулярны друг другу, поэтому генерируемые в этих плоскостях дислокации блокируют друг друга в точках их пересечения с образованием дислокационных полупетель, закрепленных концами на обратной стороне
пластины.
На поверхности эпитаксиальной структуры ориентации (001) механические нарушения в соответствии с заявляемым техническим решением могут быть сформированы, по
крайней мере, в одном из двух взаимно перпендикулярных и равнозначных кристаллографических направлений - [100] или [010]. В случае формирования механических нарушений в обоих направлениях одновременно плотность дислокационной сетки в объеме
подложки и эффективность захвата неконтролируемых примесей возрастают. Выбор количества направлений осуществляют исходя из особенностей формируемой активной
структуры (например, толщины эпитаксиальной пленки), режимов эпитаксии и т.п.
Требования по шагу расположения линий механических нарушений продиктованы
следующими обстоятельствами. Образование дислокационных полупетель происходит
при пересечении плоскостей скольжения дислокаций. Линия пересечения плоскостей
скольжения дислокаций, генерируемых от соседних линий механических нарушений, находится на расстоянии от поверхности подложки, равном половине расстояния между этими
линиями нарушений. Совокупность линий пересечения плоскостей скольжения дислокаций,
образующихся от соседних линий механических нарушений, образует своеобразный уровень,
располагающийся на расстоянии от поверхности пластины, равном половине шага между линиями нарушений. Совокупность линий пересечения плоскостей скольжения дислокаций, образующихся от каждой второй линии механических нарушений, образует уровень,
расположенный на расстоянии от поверхности пластины, равном шагу между линиями повреждений, и т.д. Основным требованием к формируемой сетке дислокаций является отсутствие их прорастания на рабочую поверхность пластины. Экспериментально установлено, что
образование дислокационных полупетель полностью завершается на третьем уровне пересечения плоскостей скольжения, т.е. на расстоянии, равном ~1,5 шага d. Дальше дислокации не
прорастают. Это расстояние не должно превышать толщину подложки t. Поскольку вносимые механические нарушения поверхности также характеризуются некоторыми размерами,
хотя и довольно малыми по сравнению с толщиной пластины, это требование несколько ужесточается. Экспериментально установлено, что влияние размеров зоны повреждения на глубину дислокационной структуры не превышает допусков на разброс толщины пластины.
Учет этих размеров достигается при соблюдении соотношения d ≤ 0,6t. Минимальное значение шага повреждений определяется долей объема пластины, которую занимает дислокационная структура. Экспериментально установленным минимальным значением является
d = 0,2t, при котором примерно треть объема пластины занята дислокациями. Меньшие значения шага приводят к возникновению коробления пластин вследствие высокой плотности
формируемых дислокаций в относительно небольшой области пластины. Эта область действует как дополнительный слой с другими физико-механическими характеристиками.
4
BY 15360 C1 2012.02.28
Заявляемое техническое решение поясняется фигурой, где схематически изображено поперечное сечение заявляемой эпитаксиальной структуры в плоскости (100). Эпитаксиальная
структура содержит кремниевую подложку 1 ориентации (001) толщиной t с механическими
нарушениями 2 шириной a и глубиной b, выполненными в направлении [100], которое перпендикулярно плоскости чертежа, с шагом d. На рабочей стороне подложки сформированы
скрытый слой 3 и эпитаксиальный слой 4. Плоскости скольжения дислокаций (011) и (0 1 1) ,
генерируемые механическими нарушениями, расположены под углом 45° к поверхности подложки и образуют три уровня взаимного блокирования e1, e2 и e3. Поскольку размеры a и b
зон нарушений значительно меньше шага d, их влияние на глубину формируемой дислокационной структуры, как видно из фигуры, невелико. Снижение шага механических нарушений
приводит к увеличению плотности формируемой дислокационной структуры.
Полученная дислокационная структура действует следующим образом. Распределение
концентрации неконтролируемых примесей по объему эпитаксиальной структуры определяется их растворимостью в различных областях этой структуры. При этом растворимость неконтролируемых примесей в значительной мере определяется возможностью образования
химической связи с материалом пластины. С увеличением количества ненасыщенных (оборванных) химических связей вероятность образования связи между загрязняющей примесью
и кремнием возрастает, т.к. уменьшается энергия активации их взаимодействия. При отсутствии сетки дислокаций наибольшим количеством оборванных химических связей в кремнии
располагает приповерхностная область эпитаксиальной пленки, в которой формируется активная структура полупроводникового прибора. Наличие дислокационной сетки с высокой
плотностью ненасыщенных химических связей приводит к значительному увеличению растворимости неконтролируемых примесей в объеме подложки, где их влияние на характеристики изготавливаемых приборов практически исключено. В процессе термообработки при
формировании активной структуры полупроводникового прибора неконтролируемые примеси приобретают высокую подвижность и свободно перемещаются по всему объему структуры. При охлаждении структур концентрация неконтролируемых примесей перераспределяется в соответствии с существующей в объеме пластины плотностью ненасыщенных
химических связей. Поскольку плотность таких связей в области сформированной дислокационной сетки на несколько порядков превышает их плотность в приповерхностной области,
неконтролируемые примеси практически полностью концентрируются в объеме подложки, а
рабочая поверхность структуры остается чистой. Отсутствие неконтролируемых примесей
вблизи рабочей поверхности заявляемой эпитаксиальной структуры обеспечивает и отсутствие их преципитации, т.е. дефекты на рабочей поверхности структуры не образуются. Таким образом, устойчивость эпитаксиальной структуры к образованию кристаллографических
дефектов в процессе изготовления активных элементов полупроводниковых приборов значительно возрастает.
Испытания эпитаксиальных структур на устойчивость к образованию дефектов проводили следующим образом.
Для испытаний использовали эпитаксиальные структуры двух типов - однослойные и
структуры со скрытым слоем. При изготовлении однослойных структур использовали
подложки типа 100 КЭС 0,01 ориентации (001) и толщиной 450 мкм. На рабочей поверхности подложек на установке эпитакспального наращивания УНЭС-2ПК-А формировали
эпитаксиальную пленку типа КЭФ 4,5 толщиной 8 мкм. При изготовлении структур со
скрытым слоем использовали подложки 100 КЭФ 4,5 ориентации (001) и толщиной
450 мкм. Скрытый слой n+-типа проводимости толщиной 6 мкм получали путем ионного
легирования пластин сурьмой дозой 250 мкКул/см2 и энергией 100 кэВ с последующей
активацией примеси термообработкой. Затем на рабочей поверхности подложек формировали эпитаксиальную пленку типа КЭФ 4,5 толщиной 12 мкм.
Расчетные значения шага нарушений, полученные на основании толщины исходной
подложки, составили от 90 до 270 мкм. Механические нарушения нерабочей поверхности
5
BY 15360 C1 2012.02.28
формировали путем нанесения рисок алмазным резцом на установке скрайбирования пластин типа "Алмаз". Шаг и направления нарушений приведены в таблице.
Для оценки устойчивости полученных эпитаксиальных структур к дефектообразованию их окисляли в сухом кислороде в течение 3 часов при температуре 1200 °С на установке АДС 6-100. Затем с них удаляли образовавшийся диоксид кремния и подвергали
травлению в травителе Сиртла для выявления кристаллографических дефектов на рабочей
стороне структур. Плотность микродефектов, отражающих наличие неконтролируемых
примесей, а также плотность дислокаций и дефектов упаковки определяли методом оптической микроскопии при увеличении 250x. Результаты контроля приведены в таблице.
Из приведенных данных видно, что при использовании заявляемого технического решения плотность микродефектов, обусловленная наличием неконтролируемых примесей,
уменьшается по сравнению с прототипом примерно на 3 порядка. Использование запредельного значения шага нарушений приводит к увеличению плотности дислокаций на рабочей стороне структур или же их короблению.
Таким образом, заявляемое техническое решение позволяет по сравнению с прототипом повысить устойчивость эпитаксиальных структур к дефектообразованию.
Влияние характеристик нарушений на устойчивость эпитаксиальных структур
к дефектообразованию
Шаг лиТип
НаправлеПлотность Плотность Плотность
№
ний
струк- ние нарумикроде- дислокадефектов Примечание
п/п
наруше-2
-2
тур
шений
фектов, см ций, см
упаковки, см-2
ний, мкм
1 одно[100]
50
8x102
1x101
нет
коробление
2 слой90
2x102
2x101
нет
3 ные
150
5x102
5x101
нет
2
1
4
270
1x10
1x10
нет
высокая де3
3
5
400
5x10
3x10
5x101
фектность
[100]+[010]
высокая де6
500
6x102
2x104
4x102
фектность
7
200
3x102
2x101
нет
8 со скры[100]
200
2x102
3x101
нет
9 скры[100]+[010]
200
5x102
1x101
нет
тым
высокая де10 слоем
500
1x102
9x103
1х102
фектность
высокая де11
прототип
3x105
2x102
8x101
фектность
Источники информации:
1. Гаврилов Р.Л. Технология производства полупроводниковых приборов. - М.: Энергия, 1968. - С. 46.
2. Карбань В.И., Кой П., Рогов В.В., Хофман Х. и др. Обработка полупроводниковых
материалов / Под ред. Новикова Н.В., Бертольди В. - Киев: Наукова думка, 1982. - С. 256.
3. Технология СБИС: В 2-х кн. Кн. 1: Пер. с англ./Под ред. С. Зи. - М.: Мир, 1986. С. 72-124 (прототип).
Национальный центр интеллектуальной собственности.
220034, г. Минск, ул. Козлова, 20.
6
Документ
Категория
Без категории
Просмотров
0
Размер файла
165 Кб
Теги
by15360, патент
1/--страниц
Пожаловаться на содержимое документа