close

Вход

Забыли?

вход по аккаунту

?

3.2 (2)

код для вставкиСкачать
 3.2 Разработать методы поиска неисправностей и восстановление работоспособности системы с использованием КИП с последующим контролем работоспособности по тест программе.
Немаловажное значение при эксплуатации станков с ЧПУ имеет надёжная работа электронной схемы станка и взаимозаменяемость электронных блоков, а также и других узлов и блоков станка. Поэтому при обслуживании таких станков необходимо иметь достаточное количество резервных блоков и узлов, чтобы устранить наладочные работы на станке и тем самым сократить потери времени при восстановлении систем ЧПУ. Но при этом необходимо иметь или целиком повторенную систему ЧПУ, или специализированные наладочные и испытательные стенды, позволяющие производить наладку и регулировку узлов и блоков вне системы станка.
Наладка и испытания элементов, узлов и блоков систем ЧПУ содержат в себе операции подрегулировки или настройки. Нельзя изменить данные, например, полупроводникового устройства, так как все элементы, влияющие на характеристику, например, полупроводникового транзистора, закрыты герметическим корпусом. Но, очевидно, можно изменить характеристику такого элемента системы, как электромеханический преобразователь, у которого изменением натяга пружин или мембран можно изменить тяговую характеристику.
К общим вопросам подготовки и проведения наладочных и испытательных работ по узлам и блокам аппаратуры систем ЧПУ можно отнести подбор измерительных приборов, внешний осмотр, проверку работоспособности, контрольные измерения и снятие характеристик.
Для испытания элементов, узлов и блоков систем ЧПУ в лабораториях исследовательских институтов и крупных заводов обычно применяют специальные контрольные устройства и стенды. Разрабатываются компактные переносные устройства для испытания и настройки узлов и блоков систем ЧПУ вне станков. По мере появления таких устройств на предприятиях, эксплуатирующих станки с системами ЧПУ, наладчики должны их осваивать и применять в своей практической работе. В ходе испытаний элементов, узлов и блоков аппаратуры ЧПУ необходимо понимание ее основных свойств, без чего нельзя обеспечить качественную режимную наладку этих устройств. Освоение методики испытаний поможет также обеспечить квалифицированное профилактическое обслуживание новых видов оборудования и облегчить отыскание возможных повреждений в схемах систем числового программного управления. При введении в действие систем ЧПУ с электронными блоками проверяется их пригодность и подвергаются контролю общие характеристики блоков и отдельных элементов. Однако контроль отдельных элементов во многих случаях недостаточен для настройки рабочих режимов системы ЧПУ, отыскания повреждений, подбора резервных элементов и проверки заводских технических данных. Необходимы также знания приёмов испытания и снятия характеристик с электронной аппаратуры.
В большинстве электронных схем ЧПУ применяются полупроводниковые приборы. Схемы с полупроводниковыми элементами собираются путем пайки, и отключение отдельных элементов при проверке можно считать нецелесообразным. Сопротивления и ёмкости, не отсоединенные от схемы, измеряют обычными методами, однако наличие общих цепей с полупроводниковыми приборами (транзисторами, диодами), вносит существенные затруднения. Во время измерения сопротивлений подключение прибора должно производиться таким образом, чтобы полярность источника питания была встречной по отношению к проводящим цепям транзистора или диода и чтобы величина напряжения была значительно ниже допустимого для них обратного напряжения. Если параллельно сопротивлению подключена емкость, то отсчет должен производиться после того, как закончится процесс зарядки конденсатора. Измерение емкости, включенной параллельно сопротивлению, можно производить методом вольтметра-амперметра с последующим учетом активной составляющей тока, проходящего через сопротивление. Более простым является измерение с помощью моста, у которого параллельно варьируемой емкости подключено сопротивление. Без разрыва цепей величины токов могут быть определены только расчетным путем по данным измерения напряжений на известных установочных сопротивлениях. В тех случаях, когда для измерения тока приходится включать амперметр, распаивать схему рекомендуется не непосредственно у полупроводникового прибора, а в цепях, удаленных от него, во избежание излишнего нагрева полупроводникового элемента. Проверку исправности интегральной микросхемы начинают с измерения постоянных и импульсных напряжений на их выводах. Чтобы избежать случайных замыканий близко расположенных выводов микросхемы, рекомендуется подсоединять щупы измерительных приборов не к этим выводам, а к связанным с ними печатным проводникам или к радиоэлементу. Если результаты измерений отличаются от требуемых, то следует установить причину: дефекты в подсоединённых к интегральной микросхеме радиоэлементах, отклонение их значений от номинальных, источник, откуда поступают необходимые импульсные и постоянные напряжения, или неисправность самой интегральной микросхемы.
Нельзя проверить исправность интегральной микросхемы методом замены, если для этой цели она должна быть выпаяна из печатной платы.
Выпаянную интегральную микросхему не рекомендуется устанавливать вновь, даже если проведенная проверка показала её исправность. Такое требование объясняется тем, что из-за повторного перегрева выводов не гарантируется её безотказная работа.
Для облегчения демонтажа установку интегральной микросхемы на плату рекомендуется производить с зазором не менее 3мм между корпусами, а также между интегральной микросхемой и платой. При выполнении электрического монтажа интегральной микросхемы необходимо соблюдать меры предосторожности.
Монтаж интегральной микросхемы следует выполнять на столе, поверхность которого покрыта хлопчатобумажным материалом или антистатическим линолеумом. Рабочий инструмент (стержень) паяльника и корпус (общую шину) радиоаппарата следует заземлять или электропаяльник включать в сеть через трансформатор, так как во время пайки возникновение токов утечки между стержнем паяльника, включенного в сеть, и выводами интегральной микросхемы может привести к выходу её из строя.
Пайку интегральной микросхемы целесообразно производить специальным групповым электропаяльником для одновременного прогрева всех её выводов. Время пайки должно быть не более 3с. Допускается поочередная пайка выводов. При этом интервал между пайками соседних выводов должен быть не менее 10с. Для пайки выводов интегральной микросхемы используют припои марки ПОСК-50-18 или ПОС-61. В общем случае программа наладки и испытания электронных систем станков с ЧПУ включает в себя следующие элементы работ.
1. Внешний осмотр.
2. Проверку правильности включения в схеме элементов и проверку их монтажа.
3. Испытание изоляции на электрическую прочность и измерение сопротивления изоляции.
4. Измерение величин и формы напряжений и токов в элементах электронной схемы. 5. Снятие рабочих характеристик (коэффициента усиления, искажения сигнала, фронта сигналов др.).
6. Контрольную нагрузку схемы на исполнительный элемент или его эквивалент.
7. Запись результатов измерений и проведенного испытания в специальную карту. 
Документ
Категория
Без категории
Просмотров
6
Размер файла
40 Кб
Теги
1/--страниц
Пожаловаться на содержимое документа